Company Information

DSF system은 여러 전기적 특성 중 반도체 칩, 핸드폰, 디스플레이 관련 제품의 개발, 분석에 필요한 솔루션을 제공하는 업체로 1mm이하 정밀한 포인트의 전기적인 특성을 측정하는 장비를 자제 설계, 제작하고 있습니다.

고객사가 보유한 계측기 및 측정하고자 하는 목적, 예산에 맞게 솔루션을 제공해 드리고 있습니다.

주요 솔루션

RF Test : High Freq. Chip, PCB, Antenna, mmW Module Test, Double side Test (특허 보유)

DC Test : New Memory, PCB, LCR, Low leakage, High Power Test

Thermal Test : Thermal Stand. Jedec Chamber, Thermal Station

Test Fixture : High Freq., Hot Test

주요 공급 파트

RF Probe tip & Cal sub. : Cascade社, GGB社 Etc.

DC Probe tip : Cascade社 Etc.

Triax cable & connector : Keysight社 Etc.

Instrument : Keysight社 Etc.

Active Probe & Tip.

특수 필름 : 내열 필름(표면처리), 무황변 필름

측정 지원

DC Station : keysight社 여의도 사무실 설치(일정 협의 후 지원)

LCR 측정, TDR 측정 : 영통 사무실 설치(TDR probe 사전 협의 필요)

RF 측정 : 소모성 파트 보유시 지원(RF tip & cal sub.)

상시 보유 장비 : Keysight 4156, 4155, 4284, 4285, Switching matrix, Laser cutter, IR System(FLIR camera 일정 확인 후 지원)