Test Solutions


  • Memory Module Test : RF Probe tip, Active probe tip을 이용한 Probe System
  • High Speed Test : PCB, Module TDR, S-parameter Test
  • High Power Test : High Power 용 소자 테스트 
  • LCR Test : 특정 주파수 영역에서의 부품 및 PCB LCR 값 측정
  • Thermal Test : FLIR社의 연구개발용 camera를 활용한 전기적 테스트 스테이션에 활용
  • Vacuum Chamber probing : 저온, 고온, 진공 조건 전기적 테스트
  • mmW Test : Radar, 초고주파 측정용 시스템
  • Antenna chamber probing : Antenna 용 chamber內 RF tip probing


 mmW Test (Ladar, Lidar, Flexible waveguide etc.)