Test Solutions
- Memory Module Test : RF Probe tip, Active probe tip을 이용한 Probe System
- High Speed Test : PCB, Module TDR, S-parameter Test
- High Power Test : High Power 용 소자 테스트
- LCR Test : 특정 주파수 영역에서의 부품 및 PCB LCR 값 측정
- Thermal Test : FLIR社의 연구개발용 camera를 활용한 전기적 테스트 스테이션에 활용
- Vacuum Chamber probing : 저온, 고온, 진공 조건 전기적 테스트
- mmW Test : Radar, 초고주파 측정용 시스템
- Antenna chamber probing : Antenna 용 chamber內 RF tip probing
mmW Test (Ladar, Lidar, Flexible wave guide etc.)